一、江蘇35*175塑料電纜拖鏈平面度誤差測(cè)量的要求

   機(jī)床工作臺(tái)平面度誤差的檢測(cè)方法沿用“兩點(diǎn)法”，即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等，將沿工作臺(tái)面某些直線部位進(jìn)行的測(cè)量，理解為任一截面上的zui大直線度誤差。而它與形位公差國(guó)標(biāo)中平面度定義規(guī)定不符，目前JB2670—82《金屬切削機(jī)床檢驗(yàn)通則》中指出，對(duì)平面度誤差的檢查測(cè)量均為按包容實(shí)際表面且距離為zui小的兩平行平面間的距離。由此定義可以看出，作為評(píng)定基準(zhǔn)的包容平面，其位置也需要根據(jù)zui小條件原則來(lái)確定。所以必須首先全面掌握被測(cè)表面的誤差情況，然后才能按一定準(zhǔn)則確定評(píng)定基準(zhǔn)。這樣就決定了測(cè)量必須要分兩個(gè)步驟，即先測(cè)出實(shí)際表面上若干點(diǎn)相對(duì)于任意一個(gè)理想平面（測(cè)量基準(zhǔn)）的高度，然后通過(guò)基準(zhǔn)轉(zhuǎn)換等方法，才能求出符合定義的誤差值。

二、用指示器測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)如何操作和評(píng)定?

   用指示器測(cè)量平面度誤差，將被測(cè)江蘇35*175塑料電纜拖鏈置于平板上，平板的工作面為測(cè)量基準(zhǔn)。測(cè)量時(shí)，通常先調(diào)整被測(cè)實(shí)際表面上相距zui遠(yuǎn)的三點(diǎn)與平板等高（調(diào)平），因此由指示器測(cè)得的zui大讀數(shù)與zui小讀數(shù)的代數(shù)差就是按三點(diǎn)法評(píng)定的平面度誤差值。也可以調(diào)整被測(cè)實(shí)際表面上一條對(duì)角線的兩端點(diǎn)與平板等高，再調(diào)整另一條對(duì)角線的兩端點(diǎn)與平板等高，于是由指示器測(cè)得的zui大讀數(shù)與zui小讀數(shù)的代數(shù)差就是按對(duì)角線法評(píng)定的誤差值。但這樣調(diào)平比較困難，可按一定的布線測(cè)量被測(cè)表面，同時(shí)記錄讀數(shù)。一般可用zui大與zui小讀數(shù)的代數(shù)差作為誤差值。必要時(shí)，可按zui小條件把各測(cè)點(diǎn)的讀數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的處理，求解誤差值。

三、用水平儀測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)注意什么問(wèn)題？

    用水平儀測(cè)量平面度誤差是以自然水平面作為測(cè)量基準(zhǔn)，測(cè)量時(shí)應(yīng)先把被預(yù)測(cè)實(shí)際表面調(diào)整到大致水平。然后把水平儀安放在橋板上，再把橋板置于被測(cè)表面上，按一定的布線逐點(diǎn)測(cè)量被測(cè)表面，同時(shí)記錄各測(cè)點(diǎn)的讀數(shù)（格數(shù)），再將格數(shù)換算成線值。根據(jù)測(cè)得的讀數(shù)（線值），通過(guò)數(shù)據(jù)處理，即可獲得平面度誤差。
此方法可用來(lái)測(cè)量大平面的平面度。

四、用自準(zhǔn)直儀測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)注意什么問(wèn)題?

   用誤差時(shí)，是將自準(zhǔn)直儀置于被測(cè)零件之外的基座上，將反射鏡安放在橋板上，并將橋板置于被測(cè)表面上。測(cè)量時(shí)，應(yīng)先把自準(zhǔn)直儀與被測(cè)表面調(diào)整到大致平行。然后用測(cè)量直線度誤差的方法，按米字布線，先測(cè)出對(duì)角線上各測(cè)點(diǎn)的讀數(shù)，再測(cè)出另一條對(duì)角線上各測(cè)點(diǎn)和其余截面上各測(cè)點(diǎn)的讀數(shù)，并將這些讀數(shù)換算成線值。根據(jù)測(cè)得的讀數(shù)（線值），利用兩條對(duì)角線的交點(diǎn)來(lái)確定符合對(duì)角線法則的理想平面，再按此理想平面求解平面度誤差值。必要時(shí)再進(jìn)一步按zui小條件求解誤差值。
此方法可用不測(cè)量大平面的平面度。

五、用平晶測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)如何評(píng)定？

    應(yīng)用光學(xué)平晶測(cè)量小平面，測(cè)量時(shí)將平晶貼于被測(cè)表面上，若被測(cè)表面內(nèi)凹或外凸，就會(huì)出現(xiàn)環(huán)形干涉帶，根據(jù)環(huán)形干涉帶數(shù)與光波的半波長(zhǎng)的乘積來(lái)表示平面度誤差。如果干涉條紋不封閉，可使光學(xué)平晶與被測(cè)表面間略微傾斜一個(gè)角度，使兩者之間形成一空氣楔。這種按干涉帶的彎曲度與相鄰兩干涉帶之間的比值，再乘以半波長(zhǎng)即得誤差值。不過(guò)，按此法評(píng)定的誤差實(shí)際上是以直線度誤差代替了平面度誤差。過(guò)去用平晶只能測(cè)小平面。近年來(lái)有了平晶干涉儀，應(yīng)用這種儀器也可以利用平晶干涉法來(lái)測(cè)量較大的平面。